射頻&測試設備
芯片端測試模組
模組規格模組尺寸90*136*29mm接觸DUT材料PEEK接觸方式探針理論壽命100K。
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芯片端測試模組
产品说明

能在85%濕度和85°C的溫度下測試芯片或集成電路產品的功能或老化試驗

产品特性

能在85%濕度和85°C的溫度下測試芯片或集成電路產品的功能或老化試驗

適用於小於等於0.3mm Picth的連接器DUT

能滿足5*20=100DUT 並行測試的要求

PCB連接器插件傳輸,使測試通信更加穩定


产品规格

1. 模組尺寸:90*136*29mm

2. 接觸DUT材料:PEEK

3. 接觸方式:探針

4. 理論壽命:100K


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