射頻&測試設備
芯片端測試模組
模組規格模組尺寸90*136*29mm接觸DUT材料PEEK接觸方式探針理論壽命100K。
聯繫我們
芯片端測試模組
產品說明

能在85%濕度和85°C的溫度下測試芯片或集成電路產品的功能或老化試驗

產品特性

能在85%濕度和85°C的溫度下測試芯片或集成電路產品的功能或老化試驗

適用於小於等於0.3mm Picth的連接器DUT

能滿足5*20=100DUT 並行測試的要求

PCB連接器插件傳輸,使測試通信更加穩定


產品規格

1. 模組尺寸:90*136*29mm

2. 接觸DUT材料:PEEK

3. 接觸方式:探針

4. 理論壽命:100K


有問題嗎?
East-Win技術顧問為您服務!
+86-0755-39026833
sales@eastwinsz.com
留言定制
您可能還對以下設備感興趣
與我們產生合作,還原您產品藍圖裡應有的樣子!
立即聯繫我們
留言定制
聯繫方式
姓名*
姓*
郵箱地址*
電話*
獲取資料
您的留言*